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锡石是锡的主要矿石矿物，其氧同位素是追踪成矿流体起源和演化的有前途的代理，这需要精确和准确的氧同位素分析。二次离子质谱 (SIMS) 是氧同位素分析的强大工具，尤其是当样品具有复杂的结构时，但基质匹配的参考材料对于准确的微量分析至关重要。用于锡石氧同位素分析的唯一可用的基体匹配参考物质是永德-Cst，并且需要更多的参考物质。在这里，我们报告 Piaotang-Cst 作为锡石氧同位素微量分析的潜在工作参考材料。我们广泛的 SIMS 微量分析证实，飘糖-Cst 相对均质，平均两个标准差 (2SD) 为 0.49‰ ( n  = 626)。 通过常规氟化同位素比质谱仪测定，飘堂-Cst的δ 18 O VSMOW值为5.33±0.07‰（2SD， n =5）。我们还证明，锡石氧同位素微量分析中不存在因微量元素含量变化而引起的可测量的基体效应。我们建议 Piaotang-Cst 可用作监测 SIMS 分析的外部再现性和准确性的工作参考材料。